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通過特殊光學透鏡形成平行光源
適合光潔平面反光物體缺陷檢測
芯片和硅晶片的破損檢測
Mark點定位
金屬、玻璃等高反光表面缺陷檢測
反光產品激光打標字符、二維碼識別
準直同軸光源具有更好的準直性能,對于玻璃、液晶、高反光平整物體表面的細微缺陷、劃痕檢測效果明顯。
(單位:mm)
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